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多目的強力X線回折装置

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機器名称

　多目的強力X線回折装置

設置場所

　小金井キャンパス5号館1階 学術研究支援総合センター 機器分析施設 機器室6［施設内マップ］

機器の概要（機器の性能など）

　本装置は、有機?無機粉末、高分子などの結晶性固体材料の定性?定量分析、格子定数の測定、結晶構造解析、結晶化度や結晶子サイズの評価、有機薄膜や半導体薄膜の方位?配向分析、膜厚評価、面内均一性評価、および、ナノ粒子／空孔のサイズ分布解析を行うためシステムであり、強力Ｘ線発生部、高感度Ｘ線検出器、光学系切替ユニット、粉末、薄膜、小角散乱、インプレーン測定用アタッチメント、および、装置制御?データ解析ソフトウェアにより構成されている。本装置は回転対陰極を用いた強力Ｘ線回折装置であり、粉末から薄膜まであらゆる試料の分析を行うことができる。通常のＸ線回折のみならず、インプレーン測定や小角散乱測定にも対応しており、ナノスケールの評価も可能な多目的なシステムである。設置のソフトウェアを用いれば、バックグラウンド補正、スムージング、ピークサーチなどの基本的なデータ処理だけでなく、反射の指数付け、格子定数精密化、定性分析、結晶子サイズ解析、粒径解析、リートベルト解析、反射率解析、配向解析などのデータ処理も可能である。さらに、測定データをテキストファイルへ変換すれば（専用ソフトはインストール済み）、データを各研究室に持ち帰ることも可能である。

機器の構成、型式等

　本装置は、Ｘ線発生部、防Ｘ線カバー、ゴニオメータ、Ｘ線検出器、光学系切替ユニット、粉末、薄膜、小角散乱、インプレーン測定用アタッチメント、冷却水送水装置部、および、装置制御?データ解析ソフトウェアにより構成されている。

測定部

　多目的強力X線回折装置　（株）リガク製　SmartLab
　　Ｘ線発生部：　回転対陰極式（Cu線源、定格出力 9kW）
　　防Ｘ線カバー：　インターロック機構付き開閉扉
　　ゴニオメーター：　試料水平型ゴニオメータ（同一検出器でインプレーン測定およびアウトプレーン測定が可能）
　　Ｘ線検出器：　シンチレーションカウンタ、および、直接検出型半導体1次元検出器（高速検出器）
　　光学系：　集中法光学系、多層膜ミラー平行ビーム光学系、小角散乱測定光学系（光学系選択スリットの交換で切替）
　　冷却水送水装置：　循環式冷却水送水装置

制御?データ処理部

　制御ソフトウェア：　SmartLab Guidance　(OS; Windiws XP)
　データ処理ソフトウェア：　PDXL ver 1.6、NANO-Solver ver 3.5、3D Explore、Global Fit、CSDA ver 1.3 　(OS; Windiws XP)

測定、利用対象となる試料名、または研究例

　有機?無機?金属の粉末状試料、フィルム状試料、板状試料、塊状試料であれば測定可能である（試料を水平に設置するため、液状試料、流動しやすい試料でも測定可能）。

利用方法

1.エックス線装置使用者登録

　X線装置を利用する教職員、研究者、大学院生、学部生はエックス線装置使用者として登録と特別健康診断の受診が必要です。 毎年3月、総務室からエックス線装置使用者登録案内が、人事課から特別健康診断の案内がありますので、忘れずに手続きを行って下さい（職員の特別健康診断は秋にも実施されます）。
未登録者や特別健康診断未受診者は装置を使用することは出来ませんのでご注意下さい。 年度途中の登録については、総務室にお問い合せ下さい。

エックス線装置使用者登録の手順は以下の通りです。

  1. エックス線装置使用者登録申請書（様式２）の記入方法と提出方法は庶務係を通じて案内があります。
  2. 記入案内を参考に申請書を記入し、使用者登録を行う全て装置について「使用責任者」の了解を得た上で、様式2右端の 「使用責任者による確認」欄にチェックを入れてください。
  3. 様式２の"使用装置"欄に記入する本装置の登録番号は T33 です。
  4. 申請責任者の教員は、本学メールアドレスから、装置の使用責任者を同報のうえ、小金井地区総務室のメールアドレスに、電子データで提出してください
  5. 本装置の使用にあたり、申請責任者に誓約書を提出して頂くことになっております。誓約書の書式は下記の問い合わせ窓口まで電子メールで申請して下さい。
  6. 記入済みの誓約書は下記の問い合わせ窓口まで学内便でお送り下さい。

2.大学連携研究設備ネットワーク予約課金システムへの登録

　本装置を使用するには、所属研究室が大学連携研究設備ネットワーク予約課金システムへの登録されている必要があります。登録されていない研究室に所属している方が新たに利用を希望する場合、指導教員の先生を通じて、下記問い合わせ先までご連絡下さい。
　大学連携研究設備ネットワーク予約課金システムへの登録済みの研究室に所属している方は、指導教員の先生に利用者登録を依頼し、必要な作業を行って下さい。利用者登録の方法などがわからない場合も、下記問い合わせ先までご連絡下さい。

3.利用資格

　初めて装置を利用する際は、下記問い合わせ先まで電子メールでご連絡下さい。使用予定（どのような測定を予定しているか）、装置原理の理解度、同種の装置の利用経験について直接お話しを伺った上で、初心者講習を行います（初心者講習は一度に３名まで受講可能とします）。講習後、はじめの１?２回は管理者立ち会いのもと測定を行って頂きます。管理者が単独使用が可能と判断した段階で利用資格を認定しますので、大学連携研究設備ネットワーク予約課金システムから利用資格申請を行って下さい。同種装置の利用経験の無い方、利用経験の浅い方は、集中法での粉末試料測定講習を最初に受講して頂き、装置に慣れた段階で他の測定手法の講習を行います。
　既に装置の使用経験があるが利用資格認定を受けていない方は、下記問い合わせ先までご連絡下さい。これまでの使用経験等をもとに資格認定を行います。

4.予約方法

　装置の利用予約は大学連携研究設備ネットワーク予約課金システムを通じて行います。利用資格を取得すると予約可能となりますので、機器分析施設ウェブサイトの機器利用予約のリンクから機器予約のページに入り、機器を選択し予約作業を行って下さい。予約申請後、装置管理者から【利用予約の承認】メールが届いた段階で予約が確定されます。

5.利用料金

　装置の使用料金は1時間360円です。

お問い合わせ窓口

学術研究支援総合センター機器分析施設　野口恵一
［内線］7188
［MAIL］knoguchi@cc.jskrtf.com
※迷惑メール防止のため「@」が画像になっております。

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